模数转换器 (ADC) 单次转换模式驱动 - ESP32-S3 - — ESP-IDF 编程指南 v5.5 文档
模数转换器 (ADC) 连续转换模式驱动 - ESP32-S3 - — ESP-IDF 编程指南 v5.5 文档
手册 39.3 章节，P 1374
SAR ADC
ADC 电气参数
查看数据手册 esp32-s3_datasheet_cn.pdf
ADC 特性：
可以看出，ESP32 的 ADC 的采样速度并不高，只有 100k SPS，即每秒采样 10,000次，根据奈奎斯特定理，最大可采样频率为 50 kHz。
ADC 架构
ESP32-S3 内置了两个 12 位的 SAR ADC（逐次逼近型ADC），可测量最多来自 20 个管脚的模拟信号。
有四个控制器：
1 个数字控制器（Digital ADC1 Controller）：支持高性能多通道扫描和 DMA 连续转换。
支持多通道扫描模式，并可自定义扫描通道顺序
支持单 SAR ADC 采样模式？？？什么意思，单通道？
提供两个滤波器，滤波系数可配
支持阈值监控，采样值大于设置的高阈值或小于设置的低阈值将产生中断
支持 DMA
2 个RTC 控制器（RTC ADC1 Controller、RTC ADC2 Controller）：支持在低功耗模式下工作和单次转换。
支持单次转换
可在低功耗模式下工作
可由 ULP 协处理器配置
1 个内部 PWDET 控制器（Power/Peak Detect Controller）：仅供 RF 内部使用，用来检测功率。
特性：
四个控制器均配有独立的 ADC Reader 模块。
通过软件选择可设置 SAR ADC1 的控制权交给 DIG ADC1 控制器还是 RTC ADC1 控制器。
RTC ADC2 控制器和 PWDET 控制器可通过指定的仲裁的方式，轮流获取 SAR ADC2 的控制权。
在芯片设计上 ADC2 是有数字控制器的，但实际上无法使用，使用 RTC 控制器来控制。参考：[ADC-183] SAR ADC2 的数字控制器 (DMA) 无法工作 - ESP32-S3
RTC ADC 控制器
RTC 电源域中的 SAR ADC 控制器，可在低频状态下提供最小功耗 ADC 测量。
大多数情况下，需要和 ULP 协处理器一起配合工作：
RTC ADC 控制器不支持连续扫描和 DMA，但协处理器可通过软件的方式实现。
可在 Deep-sleep 模式下对通道进行周期性检测。在 Deep-sleep 模式下，ADC 采样只能通过 ULP 协处理器触发（通过配置 RTC 外设的寄存器来触发 ADC）。
DIG ADC 控制器
与 RTC ADC 控制器相比，DIG ADC 控制器使用了快速时钟，采样速率大幅提升。
支持专用定时器触发的多通道扫描，。
扫描完成将产生中断。？1个还是素有？？？
ADC 对应引脚
ADC 转换和衰减
Vref 为 SAR ADC 内部参考电压，出厂设定为 1100 mV。
如需转换大于 Vref 的电压，信号输入 SAR ADC 前可进行衰减。衰减可配置为 0 dB、2.5 dB、6 dB 和 12 dB
单次转换
读取原生数据：
esp_err_t adc_oneshot_read(adc_oneshot_unit_handle_t handle, adc_channel_t chan, int *out_raw)原始值转换为电压值：
esp_err_t adc_cali_raw_to_voltage(adc_cali_handle_t handle, int raw, int *voltage)线程安全：
adc_oneshot_new_unit()
adc_oneshot_config_channel()
adc_oneshot_read()
非线程安全：
adc_oneshot_del_unit()
Kconfig配置：
